1. 论文信息

论文标题: 《SSD: Single Shot MultiBox Detector》

论文发表:2016
论文链接:SSD: Single Shot MultiBox Detector | SpringerLink

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@inproceedings{liu2016ssd,
title={Ssd: Single shot multibox detector},
author={Liu, Wei and Anguelov, Dragomir and Erhan, Dumitru and Szegedy, Christian and Reed, Scott and Fu, Cheng-Yang and Berg, Alexander C},
booktitle={European conference on computer vision},
pages={21--37},
year={2016},
organization={Springer}
}

2. 归纳总结

标签 目的 方法 总结
#Anchor #单阶段 实现多尺度以及卷积预测,进一步提升精度和速度 MultiBox,Anchor 经典单阶段算法

3. 引言

SSD算法,其英文全名是Single Shot MultiBox Detector, SSD的优势在于消除了bounding box proposal和pixel or feature resampling,并使用了multi-scale,因此达到了比faster rcnn和yolo更高的检测精度和更快的检测速度。

图片来自目标检测|SSD原理与实现 - 知乎 (zhihu.com)

4. SSD模型

SSD采用VGG16作为基础模型,然后在VGG16的基础上新增了卷积层来获得更多的特征图以用于检测,模型结构如下图:

SSD和Yolo一样都是采用一个CNN网络来进行检测,但是却采用了多尺度的特征图,网络的核心点:

  • 使用小的卷积核预测类别和边界框偏移量
  • 对多个(多尺度)特征图进行检测
  • 设置不同比例的先验框,如下图

SSD将背景也当做了一个特殊的类别,如果检测目标共有c个类别,SSD其实需要预测c+1个置信度值,其中第一个置信度指的是不含目标或者属于背景的评分。在预测过程中,置信度最高的那个类别就是边界框所属的类别,特别地,当第一个置信度值最高时,表示边界框中并不包含目标。第二部分就是边界框的location,包含4个值(cx,cy,w,h),分别表示边界框的中心坐标以及宽高。但是真实预测值其实只是边界框相对于先验框的转换值。先验框位置用$d=(d^{cx},d^{cy},d^{w},d^{h})$表示,其对应边界框用$b=(b^{cx},b^{cy},b^{w},b^{h})$表示,那么边界框的预测值$l$其实是b相对于d的转换值:

5. 模型训练

5.1 正负样本划分

首先,对于图片中每个ground truth,找到与其IOU最大的先验框,该先验框与其匹配,这样,可以保证每个ground truth一定与某个先验框匹配。通常称与ground truth匹配的先验框为正样本,其次,通过判断先验框和ground truth之间的IoU值是否大于阈值(如0.5),大于则为正样本

5.2 损失计算

损失包含两个部分:定位损失和分类损失

$$L(x,c,l,g)=\frac{1}{N}(L_{conf}(x,c)+\alpha L_{loc}(x,l,g))$$

其中N代表所匹配的正负样本数量,l代表预测框,g代表真实框,和faster rcnn相似,回归的偏移量的值是边界框的中心坐标(cx,cy)和框的宽度w和高度h。

$$\hat{g} _ {j}^{cx}=(g _ {j}^{cx}-d _ {i}^{cx})/d _ {i}^{w}$$

$$\hat{g} _ {j}^{cy}=(g_{j}^{cy}-d_{i}^{cy})/d_{i}^{h}$$

$$\hat{g} _ {j}^{w}=\log(\frac{g_{j}^{w}}{d_{i}^{w}})$$

$$\hat{g} _ {j}^{h}=\log(\frac{g_{j}^{h}}{d_{i}^{h}})$$

因此定位损失函数为:$L_{loc}(x,l,g)=\sum_{i \in Pos}^N \sum_{m\in {cx,cy,w,h}}x_{ij}^{k}smooth_{L1}(l_i^m-\hat{g} _ j^m)$
分类损失是一个softmax损失:$L_{conf}(x,c)=-\sum_{i\in Pos}^{N}x_{ij}^p\log(\hat{c} _ i^p)-\sum _ {i\in Neg}log(\hat{c} _ i^0)$
其中$\hat{c} _ i^p=\frac{exp(c_i^p)}{\sum_p(exp(c_i^p))}$

6. 参考文献

目标检测|SSD原理与实现 - 知乎 (zhihu.com)